| Développement instrumental | Acquisition et analyse de données | |
 Au travers d’expertises en optique, instrumentation, informatique industrielle, pilotage de périphériques, la plateforme aide au développement de systèmes expérimentaux. L’automatisation de procédures d’acquisition de données ou de contrôle de systèmes complexes font partie de nos services. Pilotage de périphériques via NI Labview et Mathworks Matlab. |
 Nous accompagnons ou réalisons l’acquisition des données / images sur les systèmes. Nous développons également des solutions logicielles d’analyse spécifiques pour certains de nos équipements. A titre d’exemple, nous avons développé une suite logicielle pour la microscopie de localisation de molécules individuelles: MTT (Sergé et al. 2008), UNLOC (Mailfert et al., 2017), QCM (Mailfert et al., 2025, Submitted). |
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| Formation | Modélisation | |
Nous formons les utilisateurs en interne sur nos systèmes. Nous formons également les collaborateurs externes afin, si le projet le nécessite, qu’il soient autonomes sur les équipements. Nous dispensons également des enseignements en formation initiale (école d’ingénieur, master, etc.) ainsi qu’en formation continue (CNRS entreprise, Inserm, ANF CNRS, etc.). |
La première étape sera de valider avec vous le cahier des charges de votre projet. Nous veillerons à ce que vos spécifications soient en adéquation avec nos moyens d’élaboration, en termes de performance, de précision, et de coups de fabrication. Cette étape se fait sur la base de modélisations en utilisant des logiciels commerciaux, tel qu’Optilayer©, ou développés en interne. |
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| Elaboration | Caractérisation | |
Nous disposons de quatre équipements industriels de dernière génération dédiés au dépôt physique en phase vapeur : deux systèmes d’évaporation par canon à électrons et deux systèmes de pulvérisation cathodique magnétron, adaptés aux échantillons de 4 pouces et 8 pouces. Nous opérons nous-mêmes ces machines et sélectionnons la technologie la mieux adaptée à votre projet. Chaque bâti est équipé d’un système de contrôle optique in-situ permettant d’atteindre des précisions sur les épaisseurs inférieures au pourcent. |
Une fois les composants réalisés, nous conservons un échantillon témoin que nous caractérisons spectralement. Deux spectrophotomètres nous permettent de réaliser des mesures résolues en longueur d’onde et en angle, en transmission ou en réflexion. Nous vérifions ainsi que la fonction spectrale obtenue correspond à la fonction de filtrage attendue et calculée lors de l’étape de modélisation. |
