(Archive) Jeudi 25 février 2010 à 13h30 (amphi Rouard) - Du microscope optique en champ proche infrarouge au STM à photon

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par Yannick De Wilde,
Institut Langevin
ESPCI-ParisTech (UMR7587 CNRS)
yannick.dewilde@espci.fr

Résumé

Dans l’infrarouge, un microscope optique en champ proche (SNOM) utilise généralement la pointe métallique d’un microscope à force atomique (AFM) dont l’extrémité est éclairée par une source laser IR et diffuse le champ électromagnétique présent à la surface de l’échantillon vers un détecteur optique. On obtient ainsi une sonde infrarouge dont la résolution peut atteindre quelques nanomètres. Nous avons adapté un SNOM à pointe diffusante pour mener l’étude de lasers semi-conducteurs en fonctionnement. Nous montrerons que la détection du champ à la surface de ces dispositifs permet d’accéder à la distribution spatiale des modes de la cavité. Nous avons appliqué ce concept à l’étude de cavités à guidage par air, ainsi qu’à l’étude de structures plasmoniques. Nous discuterons nos recherches en cours en collaboration avec le groupe QC-PCSEL de l’IEF portant sur un premier dispositif de plasmonique intégrée, incluant un générateur de plasmons de surface et leur couplage dans une structure passive.

En l’absence de source laser, le rayonnement thermique est une source de champ électromagnétique propre à l’échantillon, que nous avons exploitée pour développer un microscope à effet tunnel à rayonnement thermique (TRSTM, thermal radiation scanning tunnelling microscope), dénommé ainsi car il permet d’imager les variations spatiales de la densité locale d’états des photons (EM-LDOS), comme le ferait un STM à photons.

Invitation : Anne Sentenac (SEMO)