Scanner champ-proche champ-lointain

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En collaboration avec le CETHIL et l’Université de l’UTAH, un nouveau dispositif de mesure de l’interaction entre des ondes évanescentes et un échantillon placé dans une enceinte où rayonnent des micro-ondes a été proposé [1].

L’instrument permet de mesurer en champ proche et en champ lointain l’amplitude et la phase de champs électromagnétiques micro-ondes diffusés par des structures immergées dans des ondes de surface (ondes évanescentes) crées par réflexion totale sur un prisme et à épaisseur contrôlable [2].

La mise à profit de ces ondes évanescentes permet de dépasser la limite de résolution de la demi-longueur d’onde.

Cette caractéristique permet de travailler à plus basse fréquence ou de détecter des défauts plus petits à fréquences élevées. Un premier prototype a déjà permis de détecter des objets d’un dixième de longueur d’onde.

Contact : Jean-Michel Geffrin
Mots-clés : Ondes évanescentes, réflexion interne totale