En collaboration avec le CETHIL et l’Université de l’UTAH, un nouveau dispositif de mesure de l’interaction entre des ondes évanescentes et un échantillon placé dans une enceinte où rayonnent des micro-ondes a été proposé [1].
Cet instrument breveté permet de mesurer en champ proche et en champ lointain l’amplitude et la phase de champs électromagnétiques micro-ondes diffractés par des structures immergées dans des ondes de surface (ondes évanescentes d’épaisseur contrôlable) crées par réflexion totale sur un prisme [2].
La mise à profit de ces ondes évanescentes permet de dépasser la limite de résolution de la demi-longueur d’onde et d’améliorer la pénétration des ondes dans les matériaux. Cette caractéristique permet de travailler à plus basse fréquence ou de détecter des défauts plus petits à fréquences élevées.
Un premier prototype a déjà permis de détecter des objets d’un dixième de longueur d’onde.
Contact : Jean-Michel Geffrin
Mots-clés : Ondes évanescentes, réflexion interne totale, champ proche, champ lointain contrôle non destructif
ResearchGate
Flux RSS