(Archives) Jeudi 4/11/2010 à 13h30, amphi Rouard | Récents développements en ptychographie par rayons X

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(Archives) Jeudi 4/11/2010 à 13h30, amphi Rouard | Récents développements en ptychographie par rayons X

par Pierre Thibault

Physics Department
Technical University of Munich
Garching, Germany

Résumé

La microscopie par rayons X, malgré tous ses succès, reste limitée par quelques difficultés de nature techniques et quelques problèmes fondamentaux. L’amélioration fulgurante des sources X des dernières décennies a ouvert la porte aux méthodes d’imagerie basées sur la cohérence du faisceau incident.

Bien que ces méthodes apportent leurs propres complications, elles résolvent d’importants problèmes encore rencontrés chez les approches de microscopie plus standard. Premièrement, les propriétés bien connues des ondes cohérentes
permettent de se débarrasser complètement de l’optique, d’où le nom fréquemment utilisé de "lensless imaging". L’optique X étant typiquement inefficace ou aberrante, cette propriété est en soi un avantage important. La cohérence permet aussi de travailler dans l’espace des amplitudes (plutôt que des intensités), donnant ainsi accès à la valeur complexe de l’onde de sortie, et donc à un contraste de phase.

Ma présentation portera sur la "ptychographie", un des derniers venus dans la famille de l’imagerie par diffraction. Nous avons démontrés dans les dernières années que cette méthode est particulièrement robuste et efficace. Je présenterai les derniers résultats obtenus par notre collaboration : la première combinaison entre ptychographie et tomographie [1].

[1] M. Dierolf et al. Nature 467 (2010) p.436

Invitation : V. Chamard (SEMO)