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Scanner champ-proche champ-lointain

En collaboration avec le CETHIL et l’Université de l’UTAH, un nouveau dispositif de mesure de l’interaction entre des ondes évanescentes et un échantillon placé dans une enceinte où rayonnent des micro-ondes a été proposé [1].

L’instrument permet de mesurer en champ proche et en champ lointain l’amplitude et la phase de champs électromagnétiques micro-ondes diffusés par des structures immergées dans des ondes de surface (ondes évanescentes) crées par réflexion totale sur un prisme et à épaisseur contrôlable [2].

La mise à profit de ces ondes évanescentes permet de dépasser la limite de résolution de la demi-longueur d’onde.

Cette caractéristique permet de travailler à plus basse fréquence ou de détecter des défauts plus petits à fréquences élevées. Un premier prototype a déjà permis de détecter des objets d’un dixième de longueur d’onde.

Contact : Jean-Michel Geffrin
Mots-clés : Ondes évanescentes, réflexion interne totale