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Eléments à colorimétrie controlée

Un troisième axe de développement concerne l’étude et le dépôt de structures à base de couches minces alternées métal/diélectriques pour le contrôle des propriétés colorimétriques réfléchies par cet élément ou la génération de métamatériaux. Parmi les actions de recherches, on peut citer le développement de modèles de dispersion des métaux, la prise en compte des interfaces métal/diélectriques et de zones de transitions associées à une oxydation en surface de la couche de métal des phénomènes de diffusion, et le design de composants à propriétés spectrales angulairement maitrisées.