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RCMO

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Recherche en matériaux, technologies et composants
de Couches Minces Optiques


Equipements

Bâtis d’évaporation - Appareillages de mesure

Bâtis d'évaporation

IAD - Evaporation assistée par faisceau d’ions

RLVIP - Dépôt assisté par plasma (principe)

RLVIP - Dépôt assisté par plasma (intérieur du bâti)

DIBS - Pulvérisation ionique assistée par faisceau d’ions

DIBS - Pulvérisation ionique assistée par faisceau d’ions
(Vue d’ensemble de la machine)

Appareillages de mesure

Analyseur Optique de Spectre ANDO AQ 6315 A

Lambdamètre COHERENT

Profilomètre TALYSURF Taylor&Hobson


Permanents :

Cihan Koc , Frederic Lemarquis , Michel Lequime , Fabien Lemarchand , Laetitia Abel , Dragan Stojcevski , Christophe Hecquet ,

Doctorants :

Marie Duchene , Marie-maude Denus-baillargeon , Stephane Sorce , Lihong Gao ,




UP   UPCAM
ECM


Language : Francais   english
Actuel : francais

Institut Fresnel,UMR 6133 CNRS-Universités Aix Marseille
Campus de Saint Jérôme, av. Escadrille Normandie 13397 Marseille Cedex 20
Tel : 33 (0)4 91 28 83 28 -- Fax : 33 (0)4 91 28 80 67